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LED高溫老化試驗(yàn)箱的機(jī)理
日期：2024-10-07 06:33
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摘要：
高溫老化試驗(yàn)箱在LED行業(yè)又叫LED高溫老化試驗(yàn)箱。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
???高溫老化試驗(yàn)箱又叫精密烤箱，高溫老化試驗(yàn)箱原理及作用：該系列產(chǎn)品適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)?？己撕团袛嗥湓诟邷丨h(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
???高溫老化試驗(yàn)箱*常見的是高溫?fù)Q氣老化試驗(yàn)箱,顧名思義，是以換氣的方式(即底部進(jìn)氣、頂部出氣)，用新進(jìn)來的空氣氧化產(chǎn)品，從而達(dá)到換氣老化的實(shí)驗(yàn)效果。
高溫老化試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：設(shè)備突破了國內(nèi)現(xiàn)有產(chǎn)品的設(shè)計(jì)思路，具有漂亮的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，安裝使用極為方便。外表美觀，實(shí)用大方，操作簡便，工作室后部備有鼓風(fēng)風(fēng)道，內(nèi)安裝有加熱器等部件，配有一對鼓風(fēng)系統(tǒng)，使風(fēng)道內(nèi)冷熱空氣吹入工作室中，以保證工作室溫度要求。采用超細(xì)玻璃保溫棉，兩道耐高溫硅橡膠密封條進(jìn)行密封，進(jìn)品風(fēng)機(jī)等性能佳的配件保證產(chǎn)品質(zhì)量及使用壽命。
???高溫老化的機(jī)理電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題有兩類，**類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；**類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配**等等。
???一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對每只元器件測試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可的穩(wěn)定期。
???高溫老化試驗(yàn)箱又叫精密烤箱，高溫老化試驗(yàn)箱原理及作用：該系列產(chǎn)品適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)?？己撕团袛嗥湓诟邷丨h(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
???高溫老化試驗(yàn)箱*常見的是高溫?fù)Q氣老化試驗(yàn)箱,顧名思義，是以換氣的方式(即底部進(jìn)氣、頂部出氣)，用新進(jìn)來的空氣氧化產(chǎn)品，從而達(dá)到換氣老化的實(shí)驗(yàn)效果。
高溫老化試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：設(shè)備突破了國內(nèi)現(xiàn)有產(chǎn)品的設(shè)計(jì)思路，具有漂亮的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，安裝使用極為方便。外表美觀，實(shí)用大方，操作簡便，工作室后部備有鼓風(fēng)風(fēng)道，內(nèi)安裝有加熱器等部件，配有一對鼓風(fēng)系統(tǒng)，使風(fēng)道內(nèi)冷熱空氣吹入工作室中，以保證工作室溫度要求。采用超細(xì)玻璃保溫棉，兩道耐高溫硅橡膠密封條進(jìn)行密封，進(jìn)品風(fēng)機(jī)等性能佳的配件保證產(chǎn)品質(zhì)量及使用壽命。
???高溫老化的機(jī)理電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題有兩類，**類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；**類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配**等等。
???一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對每只元器件測試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可的穩(wěn)定期。